Una scoperta del NIST migliorerà la prestazioni dei cellulari
30 Giugno 2006 | PuntoCellulare.it
CHIP CERCA I ricercatori del National Institute of Standards and Technology (NIST) sostengono di aver messo a punto una nuova metodologia per misurare le impercettibili interferenze causate dal movimento casuale degli elettroni nei circuiti elettronici, una tecnica che potrebbe essere utilizzata per migliorare la capacità di ricezione e la durata della batteria dei telefoni cellulari.
Finora le interferenze dei circuiti a tecnologia CMOS (complementary metal oxide semiconductor) utilizzati a profusione nei telefoni cellulari erano difficilmente rilevabili dagli strumenti, con la conseguente difficoltà di una loro messa a punto perfetta. I ricercatori del NIST, in collaborazione con l' IBM Semiconductor Research and Development Center ed RF Micro Devices, hanno dimostrato la possibilità di misurare le interferenze nei dispositivi CMOS ancora prima che siano inseriti nei chip. In futuro questo consentirà di ottimizzare i circuiti per ottenere prestazioni superiori. SEGUICI SU
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Finora le interferenze dei circuiti a tecnologia CMOS (complementary metal oxide semiconductor) utilizzati a profusione nei telefoni cellulari erano difficilmente rilevabili dagli strumenti, con la conseguente difficoltà di una loro messa a punto perfetta. I ricercatori del NIST, in collaborazione con l' IBM Semiconductor Research and Development Center ed RF Micro Devices, hanno dimostrato la possibilità di misurare le interferenze nei dispositivi CMOS ancora prima che siano inseriti nei chip. In futuro questo consentirà di ottimizzare i circuiti per ottenere prestazioni superiori. SEGUICI SU
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